Die FPGA-basierten Scanflex-II-Controller erlauben die Anwendung leistungsfähiger Test- und Validierungsmethoden. Sie nutzen in den zu prüfenden Elektronik-Baugruppen mit reduziertem physischen Zugriff eingebettete Instrumente, um diese zu testen und zu programmieren.

Die SFX II PXIe C4/FXT fungiert als einheitliche Steuerplattform mit 4 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz. Dadurch sind synchronisierte Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor Emulation, Chip Integrated Instruments oder dem Embedded Diagnostics Verfahren möglich.

Grundlegende Elemente sind dabei unter anderem eine programmierbare, multifunktionale 32-Kanal-I/O-Mixed-Signal-Einheit mit Signalfrequenzen bis zu 100MHz und programmierbare TAP-Protokolle für Prozessor Debug Interfaces. Angesteuert wird die Karte über ein PXI Express x2 Interface.
 

Durch eingebettete Funktionstests ...

kann Erkennung und Diagnose dynamischer Fehler realisiert werden, während die Features zur In-System-Programmierung (ISP) für Flash Komponenten, Mikrocontroller und PLD/FPGA andere Stand- alone -Programmer überflüssig machen. Durch spezielle Erweiterungs- und Konfigurationsfeatures ist die SFX II PXIe C4/FXT auch für zukünftige Embedded Technologien zum Testen, Validieren, Debuggen und Programmieren vorbereitet.


Anwendungen

Unter Nutzung der PXI Express Plattform lassen sich externe Funktionstests mit Embedded Prozeduren kombinieren. Das System ist sowohl für die Entwicklung, als auch für die Produktion geeignet. Dadurch reicht sein Einsatzbereich von der Prototypen-Designverifikation über das Hardware-Debugging, die Programmierung von Flash bis hin zum Gang-Test von High Volume Stückzahlen und der Diagnose defekter Baugruppen aus dem Feld zur Gewinnung von Reparaturinformationen.