Die Teilnehmer lernen die Vorteile einer Integration von JTAG/Boundary Scan in andere Testverfahren wie Flying-Probe-Test (FPT), In-Circuit-Test (ICT)oder Funktionstest kennen. Sie erfahren, wie die optimale Balance von Kosten und Zykluszeiten gefunden werden kann. Es wird vermittelt, was JTAG/Boundary Scan im Zusammenspiel mit anderen Testverfahren leistet.
Der Referent ist Alexander Beck von Göpel electronic. Die Plätze sind limitiert, eine Anmeldung ist noch möglich.
Online-Seminar zu innovativen Testverfahren am 10. Dezember 2019
BRANCHEN-NEWS MESSTECHNIK MESSTECHNIK
