Online-Seminar zu innovativen Testverfahren am 10. Dezember 2019

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Am Dienstag 10. Dezember 2019 findet 10:00 Uhr ein kostenloses Online-Seminar von Göpel eletronic zu Test- und Prüfverfahren statt. Erläutert wird unter anderem ein Lösungsansatz zur Kombination von verschiedenen Technologien und Testverfahren.



Die Teilnehmer lernen die Vorteile einer Integration von JTAG/Boundary Scan in andere Testverfahren wie Flying-Probe-Test (FPT), In-Circuit-Test (ICT)oder Funktionstest kennen. Sie erfahren, wie die optimale Balance von Kosten und Zykluszeiten gefunden werden kann. Es wird vermittelt, was JTAG/Boundary Scan im Zusammenspiel mit anderen Testverfahren leistet.


Der Referent ist Alexander Beck von Göpel electronic. Die Plätze sind limitiert, eine Anmeldung ist noch möglich.

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