Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade für die Test Environment Interactive (KTEI) V7.2 beinhaltet neun Testbibliotheken für Solarzellen, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion (Kapazität-Spannung) des Systems und eine Unterstützung für das Instrumenten-Chassis des Modells 4200-SCS mit neun Steckplätzen.
Das Software-Upgrade unterstützt auch DLCP-Messungen (Drive-Level Capacitance Profiling), ein neues Testverfahren für Solarzellen, das mit den bislang erhältlichen Testlösungen nur schwierig durchführbar war. DLCP liefert Informationen zur Fehlerdichte bei Dünnfilm-Solarzellen. Bestehende C-V-Karten (Kapazität-Spannung) des Modells 4200-CVU, die im November 2007 vorgestellt wurden, können für dieses Testverfahren modifiziert werden. Der Frequenzbereich des Modells 4200-CVU wurde zur Unterstützung der DLCP-Tests von 10kHz-10MHz auf 1kHz-10Mz erweitert. Dieser vergrößerte Frequenzbereich erweitert auch den Anwendungsbereich des Systems, so dass ein Test von LCDs und organischen Halbleitern, wie OLEDs (Organic Light-Emitting Diode), unterstützt wird.
Durch die zunehmende Verbreitung von I-V-, Impuls- und C-V-Charakterisierungen benötigen die Anwender des Modells 4200-SCS eine außerordentliche Testflexibilität und umfassende Möglichkeiten, wofür die Grundsysteme allerdings oftmals zu wenige Steckplätze enthalten. Im Hinblick auf diese Anforderung unterstützt der Upgrade V7.2 nun ein Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen. Bislang verfügte das Modell 4200-SCS nur über acht Steckplätze für Source-Measure Units (SMUs), Impulsgenerierungs- und Oszilloskopkarten, sowie Kapazität-Spannungskarten. Bestehende Systeme des Modells 4200-SCS können auf neun Steckplätze umgerüstet werden; alle neuen Grundsysteme verfügen künftig über neun Steckplätze.
In Ergänzung zum Upgrade V7.2 hat Keithley auch ein Triax-Kabelset für die Verbindung des Modell 4200-SCS mit einem Prober entwickelt, das die Umschaltung zwischen DC I-V-, C-V- und Impulstest-Konfigurationen vereinfacht. Zwei Versionen sind verfügbar: eines für Cascade Microtech Prober und das Andere für SUSS MicroTec Prober.
Verfügbarkeit
Die Version 7.2 von KTEI ist ab sofort kostenlos für Anwender des Modells 4200-SCS erhältlich. Allerdings fallen Kosten für die Kalibrierung der Erweiterung 4210-CVU und den Upgrade bestehender Modelle 4200-SCS für eine Unterstützung von neun Instrumenten an.
