Zusammen mit der Tessent DefectSim-Technologie von Siemens trägt die Tessent AnalogTest-Software dazu bei, die Testprogrammierungszeit für analoge Schaltungen in ICs durch automatisch generierte Design-for-Test- (DFT-) Schaltungen und digitale Testmuster zu verkürzen. Die Tests laufen laut Unternehmen auf fast jedem Testgerät in weniger als einer Millisekunde ab. Die Fehlerabdeckung kann in der Simulation bis zu 100 Mal schneller als bei spezifikationsbasierten Tests überprüft werden.
Die Software ...
erweitert die Fähigkeiten zur Erstellung struktureller Tests, indem sie basierend auf spezifikationsbasierten Tests auch Simulationsprüfstände erstellt und die intuitiven High-Level-ICL- und PDL-Testbeschreibungen gemäß IEEE P1687.2 verwendet, die eine analoge Erweiterung des digitalen IJTAG-Standards darstellen. Diese Tests können den analogen Testablauf und die Fehlerabdeckung für algorithmische Anpassungen, parametrische Top-up-Tests oder die Metriken der funktionalen Sicherheit gemäß ISO 26262 verifizieren. Außerdem kann eine Einbettung der Scantests diese Metriken weiter verbessern.
Tessent AnalogTest soll ab Dezember 2025 allgemein verfügbar sein.
Test-Tool für analoge Schaltungen
FPGA-EDA
