PXIe-Controller für den Board-Test in Entwicklung und Produktion

MESSTECHNIK

Mit einem zweiten PXIe-Controller erweitert Göpel electronic die Produktreihe SFX II von JTAG/Boundary Scan Controllern. Der SFX II PXIe C4/LX basiert auf einer Test- und Validierungsmethodik, die im Design eingebettete Instrumente nutzt.



Mit dem Controller lassen sich komplexe Boards mit reduziertem physikalischem Zugriff testen und programmieren. Dafür bietet der multifunktionale Mixed-Signal-Controller eine einheitliche Steuerplattform mit vier unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz.

Dadurch gelingt die synchronisierte Ausführung von embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor Emulation, Chip integrated Instruments oder dem Embedded-Diagnostics- Verfahren auf einer Plattform.


Technische Details

Die Testtiefe für komplexe Boards wird auch ohne Einsatz von Nadeln verbessert und die Zahl notwendiger Instrumente wird reduziert. Das Gerät kann durch eingebettete Funktionstests dynamische Fehler erkennen und analysieren. Es ist eine High-Speed-In-System-Programmierung (ISP) für Flash-Komponenten möglich, ohne Mikrocontroller und PLD/FPGA-Stand-alone-Programme zu verwenden.

Durch Erweiterungs- und Konfigurationsfeatures ist der SFX II PXIe C4/LX für zukünftige embedded Technologien zum Testen, Validieren, Debuggen und Programmieren vorbereitet. Unter Nutzung der PXI Express Plattform lassen sich somit externe Funktionstests mit Embedded-Prozeduren kombinieren.


Anwendungsbereiche

Das System ist für die Entwicklung und die Produktion geeignet. Der Einsatzbereich reicht von der Designverifikation von Prototypen, über das Hardware Debugging, die Programmierung von Flash bis hin zum Gang-Test von Volumenstückzahlen und der Diagnose defekter Baugruppen im Feld.

Der Controller ist kompatibel zu den PXIe Produkten der ersten SCANFLEX Generation. 

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