Die ICs ergänzen die strahlungsfesten Bauteile im Kunststoffgehäuse, die Renesas 2017 für Kleinsatelliten in niedrigen Erdumlaufbahnen (LEO; Low Earth Orbit) vorgestellt hat. Zusammen unterstützt das Renesas IC-Portfolio für Kunststoffgehäuse verschiedene Erdumlaufbahnen und bietet die erforderliche Strahlungsfestigkeit für Satellitensubsystemen und Nutzlasten. Um sicherzustellen, dass die ICs im Kunststoffgehäuse die Qualitätsstandards beim Betrieb unter Weltraumbedingungen einhalten, werden die Bausteine gemäß QMLV auf Produktionsebene getestet und alle ICs dem Radiation Lot Acceptance Test (RLAT) unterzogen.
Der Testablauf in der Produktion ...
umfasst 100 Prozent CSAM, Röntgen, Temperaturzyklen, Burn-In (statisch und dynamisch), Sichtkontrolle und entspricht dem Standard SAE AS6294/1 für in Kunststoff eingeschlossene Mikroelektronik für Weltraumanwendungen. Zusätzliches Screening beinhaltet Lot Acceptance Testing pro Einheit und Waferlos für HAST, Lebensdauertest und Feuchtigkeitsempfindlichkeitprüfung.
Die ICs durchlaufen Charakterisierungstests bei einer Gesamtdosis ionisierender Strahlung (Total Ionizing Dose; TID) von bis zu 75 krad(Si) für Low Dose Rate (LDR) sowie bei einer linearen Energieübertragung (Linear Energy Transfer; LET) von 60 MeV•cm2/mg oder 86 MeV•cm2/mg für die Auswirkungen von Einzelereignissen (Single Event Effects; SEE). Der ISL71001SEHM ist für eine TID von bis zu 100 krad(Si) für High Dose Rate (HDR) ausgelegt.
