Optische Leistungsmessmodule als Ein- und Zweikanalversion

MESSTECHNIK

Seine optischen Leistungsmessmodule der AQ2300-Serie erweitert Yokogawa Test & Measurement um ein Ein- und ein Zweikanalgerät. Dabei werden alle Module in einem Chassis integriert.



Die modulare Messplattform AQ2300 wird um die optischen Leistungsmessmodule AQ23211A (1-Kanal) und AQ23212A (2-Kanal) erweitert. Die Module bieten die Funktionen der AQ2200-Serie sowie technische Neuerungen. Dazu zählen eine interne Synchronisationsfunktion mit dem Source-Measure-Modul AQ23811A, sowie eine beschleunigte interne sowie externe Datenverarbeitung und Übertragung. Durch die Kombination aller Module in einem Chassis entsteht eine kompakte Testlösung für photonische und elektronische Bauelemente.


Abtastraten und Datenübertragung

Die Module AQ23211A/AQ23212A bieten eine minimale Mittelungszeit von 20µs – eine Verbesserung gegenüber den bisherigen 100µs. Dadurch wird eine präzisere Messdatenerfassung ermöglicht. Gleichzeitig reduziert sich die Übertragungsdauer für Datensätze mit bis zu 100.001 Messpunkten auf <1s. Auch bei der optischen Leistungsprotokollierung wurden die Kapazitäten erweitert: Die maximale Anzahl erfassbarer Datenpunkte wurde von 20.001 auf 1.000.001 erhöht.


Synchronisierter Betrieb mit Source-Measure-Unit

Ein Entwicklungsziel war die Integration der neuen OPMs mit der eingeführten Source-Measure-Unit AQ23811A innerhalb desselben AQ2300-Rahmens. Die SMU ermöglicht präzise Pulsausgabe (bis 50µs) und simultane Spannungs- und Strommessung. Über eine interne Synchronisationsfunktion können OPM und SMU ohne externe Verkabelung zeitlich exakt gekoppelt betrieben werden.

Das modulare Multi-Applikations-Testsystem vereint sowohl SMU als auch die neuen OPM-Module innerhalb eines Chassis vereint. Über digitale I/O-Schnittstellen kann das System externe Trigger empfangen und Messsignale ausgeben.


Anwendungsgebiete

  • Charakterisierung optischer Halbleiterkomponenten (LEDs, Laserdioden, Fotodioden, Transceiver, optische Wellenleiter)
  • Vermessung elektronischer Bauelemente (z. B. Transistoren, FETs)
  • Prüfung passiver optischer Komponenten, insbesondere Glasfasern