24.01.2020

Option zur Jitter-Separation für Rohde & Schwarz Oszilloskope

Rohde & Schwarz präsentiert eine Methode zur Analyse der einzelnen Jitter-Komponenten. Diese liefert laut Anbieter den Entwicklern elektronischer Schaltungen detailliertere Informationen für die Fehlersuche bei schnellen Signalen.


Bild: Rohde & Schwarz

Die Option R&S RTO-/ RTP-K133 für Erweiterte Jitter-Analyse bietet einen analytischen Ansatz, um die einzelnen Komponenten von Jitter zu separieren. Dazu gehören sowohl zufälliger Jitter als auch deterministische Jitter-Komponenten wie datenabhängiger und periodischer Jitter. Dieser Ansatz basiert auf einem parametrischen Signalmodell, das das Verhalten der zu testenden Übertragungsverbindung vollständig charakterisiert.

 

Ein Hauptvorteil dieser Methode besteht darin, dass das Jitter-Modell im Gegensatz zu herkömmlichen Methoden, bei denen die Daten auf einen bestimmten Satz an Time Interval Error (TIE) Messungen reduziert werden, hier die vollständigen Signalformeigenschaften des zu testenden Signals umfasst. Das Ergebnis sind konsistente Messdaten auch bei relativ kurzen Signalfolgen sowie bisher nicht verfügbare Informationen wie die Sprungantwort oder die Unterscheidung zwischen vertikalem und horizontalem periodischen Jitter.

 

Verschiedene Jitter-Darstellungsformen bieten dem Anwender Einblicke in die Daten, z. B. synthetische Augendiagramme, Histogramme aller einzelnen Jitter-Komponenten, Spektral- und Peak-Ansichten von periodischem Jitter und das „Badewannendiagramm“ (Bathtub Plot) zur Abschätzung der Bitfehlerrate.

 

Die Option R&S RTx-K133 zur Jitter-Separation für die Oszilloskope R&S RTO und R&S RTP ist ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich.


 


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