11.02.2014

NI/Göpel: Technologietag Baugruppentest am 19. März




Am 19. März veranstalten National Instruments und Göpel electronic in Weimar den fünften Technologietag zum Thema Baugruppentest. Dort werden Fachvorträge von Anbietern von Prüftechnik sowie von Prüfverfahren über den aktuellen Stand der Technik informieren, Fall- und Applikationsbeispiele erläutern sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen geben.



Themenbereiche

  • Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen
  • Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI/SPI)
  • JTAG/Boundary Scan
  • Chip-embedded Instrumentation
  • Funktionstest (FKT)
  • Kombination verschiedener Testverfahren




Eine begleitende Ausstellung zeigt Produkte und Technologien. Die Teilnahmegebühr beträgt 98 Euro (zzgl. MwSt.).


 


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