National Instruments: Automated Test Summit

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National Instruments richtet den fünften Automated Test Summit aus. Teil dieser virtuellen Veranstaltung sind technische Präsentationen über Trends und die Bewältigung aktueller Herausforderungen im Bereich automatisierter Prüfanwendungen. Der Automated Test Summit 2008 wird am 5. Juni live im Internet stattfinden und in Amerika, Europa und Asien präsentiert.

 

Teilnehmer können in ihrer eigenen Sprache mit NI-Experten kommunizieren. Während der ganztägigen kostenlosen Veranstaltung können Anwender Keynote-Präsentationen und technische Workshops verfolgen, sich live an Frage- und Antwortrunden beteiligen und im Ausstellerbereich mit Herstellern in Kontakt treten. Vertreter von Unternehmen, darunter Averna, Cal-Bay, Intel, Microsoft und Tektronix, präsentieren ihre Lösungen.

 

Es werden folgende Themenbereiche behandelt:

  • Kostenreduzierung bei der Softwareentwicklung 
  • Trends im Hardwaredesign
  • Verlängerung der Lebensdauer von Prüfsystemen
  • Podiumsdiskussion zur Entwicklung von Prüfsystemen

Interessenten können sich online unter der unten aufgeführten URI anmelden.

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