Keithley: Software für den Halbleitertest

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Keithley Instruments hat eine neue Version seiner ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software für Halbleitertest- und Messanwendungen vorgestellt. Sie dient der Charakterisierung von Bauteilen und diskreten Halbleiterbauteilen im Gehäuse. Der Trace-Modus ermöglicht eine sofortige Überprüfung der Ergebnisse und eine interaktive Steuerung des Spannungsverlaufs und reduziert damit die Gefahr einer Zerstörung der Bauteile.

 

Die Edition kombiniert Unterstützung für die verschiedenen Source-Measure (SMU) Instrumente mit einer Hardware-Steuerung, Geräteanbindung und Datenmanagement in einem Tool. Dieses wurde für die Verifikation, das Debugging und die Analyse von Bauteilen optimiert. Die Software beinhaltet eine Testbibliothek, so dass keine Programmierung erforderlich ist. Die intuitive grafische Anwenderschnittstelle (GUI) vereinfacht I-V-Tests sowie die Erfassung und Analyse der Daten.

 

Vorkonfigurierte Tests minimieren die Vorbereitungszeit. Der Trace-Modus ermöglicht interaktive Bauteiltests. Damit lässt sich der Arbeitsbereich und die Charakterisik eines Testobjekts (DUT) untersuchen, ohne dass das Bauteil beschädigt wird. Dieser interaktive Modus beinhaltet eine komfortable Methode zur Steuerung eines Spannungsverlaufs entweder mit einem virtuellen Schieberegler oder über die Pfeiltasten der PC-Tastatur.

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