Keithley: Online-Seminare zur Nanotechnologie auf CD

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Keithley Instruments hat seine Online-Tutorials und Seminare zum Thema Nanotechnologie auf einer CD zusammengestellt. Sie hat den Namen "Characterizing Nano-Materials and Devices with Precision and Confidence" ist kann kostenlos online über den unten angeführten Link bestellt werden. Die englischsprachigen Webinare auf der CD enthalten Grundlagen und Spezialwissen.

 

 

Themen der CD

 

  • How to Get the Most from Your Low Current Measurement Instruments, beschreibt die Grundlagen der elektrischen Messung kleiner Ströme (von Nanoampere bis Femtoampere), beispielsweise die Auswahl des richtigen Instruments für Strommessungen, praktische Möglichkeiten zur Reduzierung von Störungen bei Strommessungen und die Quantifizierung von schwierigen Störquellen.
  • How to Make Electrical Resistivity Measurements of Bulk Materials: Conductors, Insulators, and Semiconductors, erklärt die Grundlagen der Messung des spezifischen Widerstands von Basismaterialien.
  • Hall Effect Measurements Fundamentals, ist eine Einführung in Hall Effect-Messungen bei Halbleitermaterialien und zur Bauteilcharakterisierung.
  • Give Your Microscope a Hand: Characterization of Nano Structures, beschreibt In-Situ-Manipulationsverfahren für die elektrische Charakterisierung von speziellen Nanostrukturen wie Elektronikstrukturen, Nano-Drähten und Nano-Röhren.
  • Understanding Electrical Characterization of Printed and Organic Electronics and Materials, erklärt eine neuartige Technologie. Dieses Seminar präsentiert Methoden und Best Practices für die elektrische Charakterisierung von gedruckter und organischer Elektronik und den entsprechenden Materialien.
  • How to Avoid Self-Heating Effects on Nanoscale Devices, beschreibt wie mit elektrischen Puls-Tests die vom getesteten Bauteil aufgenommene Energie und damit das Potential für eine Schädigung reduziert werden kann. Insbesondere erklärt diese Präsentation die erforderlichen Pulstestverfahren und Anlagen, um die damit verbundenden Messherausforderungen erfüllen zu können.
  • Advanced Particle Beam Methods for Nano-characterization and Analysis, zeigt anhand von Fallstudien die Weiterentwicklung der Nanotechnologie von der industriellen Forschung zum Design und der Entwicklung von Produkten.
  • Electronic Properties of Zinc-Blende Wurtzite Biphasic Gallium Nitride Nanowires and NanoFETs, beschreibt wie Zwei- und Vier-Punkt-Messungen mit Prober bei zweiphasigen Galliumnitrid-Nanoleitern mit einem Halbleiter-Charakterisierungs-System Keithley 4200-SCS und einem gekoppelten Zyvex-Nanomanipulator durchgeführt werden können.
  • In-situ Correlation of Mechanical Properties, Deformation Behavior, and Electrical Characteristics of Materials Using Conductive Nanoindentation, beschreibt die Grundlagen elektrischer Nanoindentationsverfahren und auch die damit gewonnenen Ergebnisse bei relativ ausgereiften Materialien wie Gold, Silizium und metallischem Glas sowie die Ergebnisse, die bei fortschrittlicheren Materialien, wie leitfähigen Polymeren und Metalloxiden (ITO) erwartet werden können.
  • Measurement Needs in Nano-Architectonics, erklärt warum die meisten Fortschritte in der Nanoelektronik auf der konventionellen Zustandsgröße, der Elektronenladung, basieren.