Göpel electronic stellt unter dem Namen PXI5396-DT/x zwei JTAG-Digital-I/O-Module auf PXI-Basis vor. Die PXI5396-DT/x unterstützen sowohl den strukturellen JTAG/Boundary-Scan-Test als auch dynamische I/O-Operationen bis 100MHz zur Ausführung von Funktionstests. Sie verfügen über ein impedanzkontrolliertes VPC-Interface zur direkten Ankopplung an signalkritische Load-Boards oder andere Desktop-Verifikationsumgebungen. Dadurch eröffnet sich die Möglichkeit die gleiche Testhardware zur Verifikation im Labor und in der Produktion mit Fixture-basierten Systemen einzusetzen.
Die PXI 5396-DT/x bestehen aus einem PXI-gestützten Interface-Modul (IFM) und einem abgesetzten Desktop-Modul. Die Entfernung der Module kann bis zu 2m ohne Leistungsverlust betragen. Das Desktop-Modul verfügt über einen Frontsteckverbinder von Virginia Panel Corporation und kann dadurch direkt an die Testumgebung angedockt werden.
Diese Lösung erzielt eine optimale Integrität der I/O-Signale durch vollständig kontrollierbare Leitungsimpedanzen. Es gibt zwei Modelle, welche sich durch die Tiefe des On-Board Speichers von 72MB (PXI 5396-DT) und 144MB (PXI 5396-DT/XM) unterscheiden. Beide Modelle bieten 96 als Input, Output und Tri-State konfigurierbare Single-Ended-Kanäle, welche auch simultanes Treiben und Messen, sowie Echtzeitvergleich erlauben.
Während im JTAG-Mode die Signale vollsynchron zu Testbusoperationen verarbeitet werden, ermöglicht der dynamische I/O-Mode die funktionale Testung mit frei programmierbaren Taktfrequenzen im Bereich 500Hz bis zu 100MHz. Dadurch können zunächst strukturelle Boundary-Scan-Tests und anschließend Funktionstests mit dem gleichen Instrument ausgeführt werden. Zur flexiblen Anpassung des Instruments an die Unit Under Test (UUT) ist das Interface in vielen Parametern per Software programmierbar.
Weitere Flexibilität erlangt das Modul durch die implementierte VarioCore-Technologie, welche den Einsatz kundenspezifischer IPs eingebettet in der Hardware des Instruments ermöglicht. Softwareseitig werden die PXI 5396-DT/x durch die integrierte JTAG Boundary Scan Entwicklungsumgebung System Cascon ab Version 4.5 unterstützt. Dazu gehören u.a. die automatische Erstellung von Verdrahtungslisten, sowie die automatische Testprogramm¬generierung (ATPG) für Boundary Scan.
Nach der Testausführung erfolgt im Fehlerfall eine entsprechende Fehlerdiagnose auf Pin- und Netzlevel, wobei der Fehlerort auch grafisch im Layout visualisiert werden kann. Die Ausführung von funktionalen dynamischen Tests und die anschließende Fehlerdiagnose beruhen auf dem Standard IEEE 1445 Digital Test Interchange Format (DTIF). Darüber hinaus steht ein interaktiver Waveform-Editor zur Verfügung.
