Jitteranalyse-Option für Rohde & Schwarz-Oszilloskop

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Die Jitter-Analyse-Option R&S RTO-K12 bietet neben automatischen Jittermessungen eine Vielzahl anderer Funktionen. So führt beispielsweise ein Wizardmenü den Anwender bei den wichtigsten Messungen zu den Ergebnissen. Für die automatische Messfunktion TIE (Time Interval Error) wurde eine konfigurierbare Software-CDR (Clock Data Recovery) implementiert. Die Track-Funktion stellt den Verlauf von Messwerten in zeitlicher Korrelation zur Messkurve dar und bietet damit zusätzliche Analysemöglichkeiten. Bei der Erstellung von Maskentests helfen geometrische Grundformen.

 

Die konfigurierbare Hardware-CDR der Option R&S RTO-K13 ist Teil des ASIC im R&S RTO. Damit steht Anwendern eine vollständig integrierte Lösung zur Verfügung. Sie schafft die Möglichkeit, eine auf die Embedded Clock bezogene Triggerung und Signalanalyse in Echtzeit durchzuführen. So lässt sich die Signalintegrität an seriellen High-Speed-Schnittstellen mit bis zu fünf Gigabit/Sekunde analysieren.

 

Die Optionen R&S RTO-K12 (Jitter-Analyse) sowie R&S RTO-K13 (Clock Data Recovery) sind ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich.

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