Isolierte Tastkopf-Technologie für die Messung schnell schaltender Leistungsbauteile

MESSTECHNIK

Keysight P S0014 A
©Keysight

Keysight hat eine optisch isolierte differenzielle Tastkopf-Familie entwickelt, die die Effizienz- und Leistungstests von schnell schaltenden Bauteilen wie GaN- und SiC-Halbleitern mit breiter Bandlücke verbessern soll.

Isolierte differenzielle Tastköpfe sind galvanisch isoliert und unterdrücken Gleichtaktspannungen, sodass Entwickler von Leistungselektronik in der Lage sind, potenzialfreie Schaltungen in Hochspannungs- und Störungsumgebungen genau und sicher zu messen. Die Technologie wird den Fortschritt bei Effizienz- und Schaltverlusttests für Hochspannungsanwendungen wie Elektrofahrzeuge, Solarenergie, Batteriemanagementsysteme und mehr vorantreiben.


Die isolierten differenziellen Tastköpfe ...

bieten eine bis zu 10 Milliarden Mal höhere Gleichtaktunterdrückung als herkömmliche differenzielle Tastköpfe und sind für Hochspannungsmessungen auf der High Side geeignet. Mit einer Bandbreite von bis zu 1GHz und einem Differenzspannungsbereich von ±2.500V ermöglichen diese Tastköpfe eine Analyse von schnell schaltenden GaN- und SiC-Bauteilen.
 

Link(s)