Hochtemperatur-Testsockel für diskrete Halbleiter

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Für Anwendungen mit hohen Strömen und Temperaturen erweitert Sullins (Vertrieb Infratron) ein Programm an Test- und Burn-In-Sockeln für Dioden, Transistoren, MOSFETs etc. Neben axialen Bauelementen können alle gängigen TO-Gehäuse getestet werden. Die Sockel können auch bei geringen Stückzahlen kundenspezifisch an die Applikation angepasst werden.

 

Die Werkzeuge sind modular aufgebaut, so dass Änderungen möglich sind. Der maximal mögliche Temperaturbereich beträgt -65 bis +250 Grad C, die maximale Stromstärke liegt bei 3A. Durch ein offenes Design ist eine optimale Wärmeabfuhr möglich. Extra-weite Lead-Ins sorgen zusätzlich für leichtes Einführen der Bauelemente und eine kurze Wechselzeit.

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