Handbuch über parallele parametrische Tests

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Keithley Instruments hat mit "Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing" ein Handbuch über parametrische Tests von Halbleitern aufgelegt. Das 60seitige Buch enthält Informationen über

 

  • die Grundlagen paralleler parametrischer Tests
  • die Implementierung paralleler Tests
  • die Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden Hardware-Lösungen
  • die Entwicklung von Teststrukturen für parallele Tests
  • beispielhaften Programmcode für typischeparallele Tests mit pt_execute
  • gängige Begriffe (Glossar)

 

Nach Aussagen von Keithley sollen die Informationen dabei helfen, dass Halbleiter-Fabs einen maximalen Testdurchsatz und niedrige Testkosten erreichen. Das Handbuch ist kostenlos erhältlich.