Die Seminare richten sich an Hardwareentwickler, Prüf- und Testingenieure sowie alle, die sich mit Elektronik-Qualitätssicherung beschäftigen.
Themen
- Effektiver Baugruppentest in Entwicklung und Produktion
- Embedded JTAG Solutions – flexibel Testen und Programmieren
- Möglichkeiten der Kombination von Embedded JTAG Solutions und Teradyne ICT
- Vollständige Testabdeckung bei optimal reduzierten Testpunkten
Termine
- 9. März Nürnberg
- 10. März Stuttgart
- 11. März Dortmund
- 12. März Hannover
