Der Scanbooster II Controller arbeitet mit Multi-Core-Prozessoren und FPGAs und unterstützt Test- und Validierungsmethoden, welche Funktionen von Schaltkreisen nutzen, um komplexe Baugruppen mit geringem physikalischem Zugriff zu testen und zu programmieren. Im Bundle bietet der Controller zwei unabhängige, parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 16MHz, sowie eine programmierbare, multifunktionale 32 Kanal I/O Mixed-Signal Einheit. Dadurch gelingen die synchronisierten Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor-Emulation, Chip Integrated Instruments oder dem Embedded Diagnostics Verfahren. Der Controller lässt sich sowohl als Desktop-Gerät, als auch integriert in andere Systemumgebungen einsetzen. Als Steuerinterfaces sind USB2.0 und GBit LAN standardmäßig integriert.

Als Softwareplattform stehen drei Editionen von System Cascon zur Auswahl. Als reine Teststation wird Cascon RunTime angeboten. Damit lassen sich alle Arten von existenten Testprogrammen ausführen. Bei den Entwicklungsstationen kann zwischen den Editionen Cascon Galaxy DS Base/SX und Cascon Galaxy DS Standard/SX gewählt werden. Neben den Boundary Scan Einsteiger-Tools für die automatische Testprogramm Generierung  (ATPG) und Pin Failure Diagnostic (PFD) für Infrastructure und Interconnection Test kommt die DS-Base Edition auch mit zahlreichen Debug-Tools. Die DS-Standard Edition enthält darüber hinaus ATPG & PFD für Speicherbausteine und Baustein Model Tests. Außerdem sind die ISP-Routinen (In-System Programming) und der Test Coverage Analyzer enthalten.