DFT Assistant von XJTAG kommt als Plugin für CR-8000 Design Gateway von Zuken

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Bild: Zuken

Zuken und XJTAG haben im Rahmen einer Partnerschaft ein Design-for-Testability(DFT)-Tool entwickelt, das die Zuken-Software CR-8000 um eine Testmethodik bei der Schaltplaneingabe erweitert. Das Tool basiert auf dem DFT Assistant von XJTAG und soll noch in diesem Jahr als kostenfreies Plugin für Anwender von CR-8000 Design Gateway verfügbar sein.

CR-8000 ist eine native 3D-Entwicklungsplattform für das Design von Leiterplatten. CR-8000 unterstützt die Architektur-Definition, das systemübergreifende Multi-Board-Layout, das Co-Design von Chip, Package und Leiterplatte sowie das MCAD-Co-Design in 3D. CR-8000 Design Gateway ist ein Paket für die Entwicklung elektrischer Schaltungen und die Prüfung elektronischer Designs.



Prüfung von JTAG-Netzen

Moderne Leiterplatten sind zunehmend komplex. Daher ist der Zugang zu Pins zur Fertigungsprüfung bei hochintegrierten Bausteinen wie Ball Grid Arrays (BGA) oft schwierig. Mit JTAG wird der Zugang zu Testzwecken einfacher. Optimierte JTAG-Designs wirken sich auch positiv auf den ROI aus. Entfällt die Optimierung der JTAG-Testabdeckung früh in der Entwicklungsphase, können die Fertigungskosten steigen. Unter Umständen muss das gesamte Board-Design neu erstellt werden.


Der XJTAG DFT Assistant hilft bei der Validierung der richtigen JTAG-Verbindungen und zeigt den Zugriff zu Boundary-Scans und die Abdeckung im Schaltplan mittels einer vollständigen Integration in CR-8000 Design Gateway an.

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