01.06.2006

ATE-Technologietag 2006




Am 29. Juni 2006 veranstalten National Instruments und Konrad Technologie in Stuttgart den 8. ATE-Technologietag mit Schwerpunkt auf Testl√∂sungen f√ľr Forschung, Entwicklung und Produktion. In Fachvortr√§gen und Pr√§sentationen wird erl√§utert wie Pr√ľfsysteme konzipiert werden und welche Kriterien bei der Wahl der Komponenten eine Rolle spielen. Im Mittelpunkt stehen die Themen Avionik, Automotive, Elektroproduktion und Design der HF-Kammer. Folgende Technologien werden vorgestellt: In-Circuit-Test, Funktionstest und Endtest, Machine Vision, HF-Messung und Boundary Scan. An der begleitenden Fachausstellung beteiligen sich Amfax, AVT, JTAG, Konrad Technologie, microLEX, National Instruments, Sony Maxx Vision und uwe Electronic.

 

Der Eintritt zur Veranstaltung kostet inklusive Begleitunterlagen, Kaffeepausen und Mittagsimbiss 75 Euro (zzgl. MwSt.).


 


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