Whitepaper
Einführung in die thermische Alterung bei verpressten Speicherinduktivitäten
Autor: Carlos Farnos, Dr.-Ing. Efrain Bernal, WÜRTH ELEKTRONIK eiSos
Die konstante Marktnachfrage nach Produkten mit höherer Leistungsdichte und -effizienz bei einer gleichzeitig stetigen Verringerung der Größe der elektronischen Netzteile hat dazu geführt, die einzelnen Komponenten im System bis an ihre Grenzen zu optimieren. Höhere Anforderungen in Bezug auf Hochleistungsanwendungen und Miniaturisierung tragen zudem dazu bei, dass passive elektronische Bauelemente immer höheren Temperaturen standhalten müssen, was die Wahrscheinlichkeit einer thermischen Alterung erhöht. Dieses bekannte Phänomen tritt sogar bei Speicherinduktivitäten mit AEC-Q200 Grade 0-Qualifikation (Betriebstemperaturbereich von -55 °C bis 150 °C) auf.
In diesem White Paper werden die Probleme erörtert, die auftreten, wenn Induktivitäten für längere Zeit hohen Temperaturen ausgesetzt sind, mit speziellem Fokus auf verpressten HochstromSpeicherdrosseln und auf der Notwendigkeit, Wärmealterungseffekte bei der Auswahl der Induktivitäten zu berücksichtigen.