In der Online-Veranstaltung werden per Live-Stream Webcasts auf Deutsch und anderen Sprachen gezeigt, welche Informationen zur Verwendung von Test- und Messgeräten wie Oszilloskopen geben.

Robert Schillinger (Field Application Engineer bei Würth Elektronik eiSos) hält den Vortrag „Which RF effects need to be considered in the measurement and design of wide-bandgap semiconductor-based power systems?“.

Darin geht es um SiC- und GaN-basierte Leistungselektronik, zu denen im Unternehmen geforscht wird. Die Teilnehmerinnen und Teilnehmern erfahren z.B. Wissenswertes über die Befilterung von Gate-Treibern. Weitere Themen sind die Auswahl geeigneter Messmittel, Jitter-Analyse, Signalintegrität und EMV-Fehlersuche.

Eine Anmeldung ist über den unten angeführten Link möglich.