Texas Instruments stellt Evaluation Boards für die Evaluierung von High-Speed-Datenwandlern vor. Das Data Capture und Pattern Generation Board TSW1400EVM dient zur Evaluierung von 16-Bit A/D-Wandlern und D/A-Wandlern des Herstellers. Das TSW1405EVM dient der Testmuster-Erfassung und das TSW1406EVM der Testmuster-Generierung

Eigenschaften des TSW1400EVM:

• Speicherkapazität 1 GB.
• Kompatibel zu ADC‑ und DAC-EVMs mit CMOS‑ und LVDS-Interface;
• Unterstützung für Analysen an acht Kanälen gleichzeitig.
• Eignung für LVDS-I/O-Raten von 1,5 GSPS (für ADCs und DACs) erlaubt den Einsatz mit den meisten ADC‑ und DAC-EVMs von TI bei den maximalen Interface‑ und Abtastraten.

Merkmale von TSW1405EVM und TSW1406EVM:

• Testmuster-Erzeugung für 16-Bit LVDS-ADCs und ‑DACs mit bis zu 64k Sample-Tiefe über eine grafische Benutzeroberfläche.
• Unterstützung für LVDS-I/O-Raten von 1 GSPS (für ADCs und DACs) erlaubt den Einsatz mit den meisten ADC‑ und DAC- Evaluation Modulen von TI bei maximaler Abtastrate.

Das TSW1400EVM ist ab sofort zu einem empfohlenen Verkaufspreis von 649 US-Dollar lieferbar. Die Module TSW1405EVM und TSW1406EVM sind ab März 2012 lieferbar und kosten jeweils 99 US-Dollar.