Keithley Instruments veranstaltet vom 24. April bis 26. April 2007 mit Nano Days eine Online-Konferenz zum Thema Nanotechnologie. Im Zuge dieser virtuellen Konferenz mit dem Titel „Visualize, Characterisize, Realize: The Future of Nanotechnology” werden Forscher von Universitäten und aus der Industrie Messtechnik für Nanometer-Bauteile und Materialien vorstellen. Es werden sechs audio-visuelle Live-Seminare abgehalten. An jedem der drei Tage finden zudem zwei Seminare in Form von Vorträgen statt. Jedes Seminar dauert ungefähr 45 Minuten und beinhaltet einen interaktiven Frage- und Antwort-Teil während des Seminars. Die Teilnahme ist kostenfrei.

Die Seminar-Themen und Referenten sind:

• Moderne Teilchenstrahlmethoden zur Nano-Charakterisierung und Analyse; Dr. Jens Greiser, FEI
• In-situ-Korrelation von mechanischen Eigenschaften, Verformungs-verhalten und elektrische Charakterisierung von Materialien mittels Conductive Nanoindentation; Ryan C. Major, Ph.D, Sr. Staff Scientist, Hysitron
• Vermeidung von Eigenerwärmungseffekten bei Nanometer-Bauteilen; Jonathan Tucker, Keithley Instruments
• Unterstützung für Ihr Mikroskop: Charakterisierung von Nanostrukturen; G. Frayne, S Kleindiek, B. Volbert, Kleindiek Nanotechnik
• Elektrische Eigenschaften von Zinkblende-Wurtzit-biphasic-GaN-Nanodrähten und nanoFETs; Hr. Benjamin W. Jacobs und Dr. Virginia M Ayres, Michigan State University
• Messanforderungen von Nano-Architekturen; Dr. Kang L. Wang, Director of MARCO Focus Center on Functional Engineered Nano Architectonics (FENA) und Director des Western Institute of Nanoelectronics (WIN)