08.11.2017

Systech Europe und XJTAG kooperieren

XJTAG, ein Anbieter von Boundary-Scan-Technologie und Systech Europe, ein Anbieter von elektronischen Testlösungen, haben die integrierte Lösung XJTAG-Boundary-Scan und Takaya-Flying-Probe vorgestellt.


Bild: XJTAG

XJTAG hat mit dem europäischen Vertriebspartner von Takaya, Systech Europe, zusammengearbeitet, um eine integrierte Lösung zu schaffen, die JTAG-Boundary-Scan mit Testsystemen für Flying-Probe kombiniert.


Da viele Komponenten derzeit als BGA oder Gehäuse mit besonders dicht liegenden Anschlüssen hergestellt werden, ist die Notwendigkeit einer Boundary-Scan-Funktion zur Steuerung dieser Geräte entscheidend für die Erzielung der besten Abdeckung. Darüber hinaus ermöglicht die Verwendung von Flying-Probe, auch Teile der Schaltung ohne JTAG-Zugang zu erreichen und so eine maximale Abdeckung durch Boundary-Scan-Tests zu erzielen.



Die Integration ...

verhilft Testingenieuren laut XJTAG zu einer Verkürzung der Testzykluszeiten bei gleichzeitiger Erhöhung der Testabdeckung. Testzykluszeiten werden reduziert, indem die Anzahl der durch Flying-Probe ausgeführten Sondenbewegungen optimiert wird. Die Testabdeckung wird erhöht, indem der durch Flying-Probe ermöglichte, physikalische Zugang mit XJTAGs - in vielen heutigen Prozessoren und FPGAs bereits integrierten - Boundary-Scan-Technologie kombiniert wird.


 


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