Basierend auf JTAG Technologies‘ QuadPod-Architektur ist das JT 2147/eDAK eine Weiterentwicklung der DAK-Schnittstelle, die speziell für robuste, hochintegrierte ATE-Systeme ausgelegt wurde. Durch den Einsatz des JT 2147/eDAK-Moduls wird die Verdrahtung von Testsystemen vereinfacht. Darüber hinaus stellt die aktive QuadPod-Schnittstelle die Signalintegrität sicher.


Zusätzlich zu vier unabhängigen JTAG Test Access Ports (TAPs) verfügt JT 2147/eDAK über 64 digitale I/O-Scankanäle sowie 16 statische DIOs. Jeder TAP-Port kann für den Betrieb mit unterschiedlichen Spannungspegeln programmiert werden. Zwei von ihnen können auch als völlig andere Test- und Programmier-Schnittstellen, wie z. B. BDM oder SWD, konfiguriert werden.


JTAG/Boundary-Scan-Applikationen, die für die Nutzung von JTAG Technologies ProVision oder klassischen Software-Werkzeugen vorbereitet sind, können auf dieser PXI-Plattform genutzt werden. Entsprechende Treiber-Pakete stehen für NI LabVIEW, TestStand, LabWindows und Geotests ATEasy sowie eine Reihe von allgemeinen Compilern (.NET framework, C++ und VB) zur Verfügung. Die eDAK-Adapter verwenden die Standard-MAC Panel Steckverbinder-Module und bieten eine Vielfalt an Kontaktausführungen.


Die Verbindungen zwischen dem PXI-Instrument und dem Adaptermodul erfolgen über eine passive Leiterplatte, ein aktives Modul zur Signalaufbereitung (z. B. JT 2147/eDAK) oder eine flexible Schaltung: Lösungen, die optimale Konnektivität mit minimiertem Verdrahtungsaufwand verbinden.