Keithley Instruments hat mit "Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing" ein Handbuch über parametrische Tests von Halbleitern aufgelegt. Das 60seitige Buch enthält Informationen über
- die Grundlagen paralleler parametrischer Tests
- die Implementierung paralleler Tests
- die Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden Hardware-Lösungen
- die Entwicklung von Teststrukturen für parallele Tests
- beispielhaften Programmcode für typischeparallele Tests mit pt_execute
- gängige Begriffe (Glossar)
Nach Aussagen von Keithley sollen die Informationen dabei helfen, dass Halbleiter-Fabs einen maximalen Testdurchsatz und niedrige Testkosten erreichen. Das Handbuch ist kostenlos erhältlich.
